Buscar
SEMCONSUMIBLES
SEMCONSUMIBLES
  • Mi cuenta
  • Lista deseos
  • PresupuestoPresupuesto
  • SEM de sobremesa
    • NANOS
  • Preparación de Muestras
    • Para microscopía correlativa y demostración
    • Almacenamiento de muestras
      • Bolsas de aluminio con cierre ziplock y termo sellado
      • Cajas desecadoras de gel de sílice
      • Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
      • Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
      • Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
      • Cajas almacenamiento de stubs con pin (Pin Stubs)
      • Cajas de almacenamiento de stubs Hitachi M4
      • Cajas de almacenamiento de stubs JEOL
      • Cajas magnéticas para discos AFM/SPM
      • Cajas almacenamiento portaobjetos de vidrio microscopía óptica
      • Cajitas para transporte de obleas
      • Cajas de plástico transparentes y otras
      • Cajitas de plástico con membrana
      • Cajitas de cartón
      • Almacenamiento de muestras al vacío
        • Contenedores de vidrio de alto vacío
        • Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
          • Con cámara de vacío de Ø 80 mm
          • Con cámara de vacío de Ø superior a 80 mm
          • Mangueras y abrazaderas para estos contenedores
        • Contenedores al vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
        • Sellador de vacío
    • Substratos y soportes
      • Obleas (wafers) y chips de silicio
      • Obleas (wafers) y chips de silicio recubiertos de oro
        • Con recubrimiento de 10 nm de oro (Au)
        • Con recubrimiento de 50 nm de oro (Au)
        • Con recubrimiento de 100 nm de oro (Au)
        • Con recubrimiento de 500 nm de oro (Au)
      • Portaobjetos recubiertos de oro
      • Discos metálicos alta pureza
        • Con Ø 12 mm de diámetro
        • Con Ø 25 mm de diámetro
      • Discos de grafito y de carbono vítreo
      • Discos y láminas de cuarzo
      • Discos y láminas de mica
      • Substratos de HOPG
    • Discos para metalizar muestras (Sputter targets)
      • Ø 19 mm diámetro para Gatan
      • Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
      • Ø 30 mm diámetro para Luxor
      • Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
      • Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
      • Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
      • Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
      • Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
      • Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
      • Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
      • Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
      • Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
    • Varillas y fibras de carbono
      • Fibras de carbono
      • Varillas de carbono
    • Hilos para metalizar muestras
    • Preparación de muestras líquidas
      • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
      • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM/TEM
      • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
      • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM/TEM
    • Adhesivos no conductores
      • Cinta de Kapton
      • Cinta de poliéster mylar PET verde
      • Pegatina doble cara
    • Cintas-etiquetas-epoxis-pegamentos-y-pinturas conductoras
      • Níquel conductor
      • Plata conductora
      • Aluminio conductor
      • Cobre conductor
      • Carbono conductor
      • Pegatinas conductoras doble cara Lift-N-Press
    • Herramientas especiales
      • Herramientas de mano
      • Herramientas para microscopía criogénica
    • Pistola antiestática
    • Manipuladores finos
    • Pinzas
      • Pinzas para discos y cantilevers AFM/SPM
      • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
      • Pinzas para uso criogénico
    • Limpieza y pulido
  • Consumibles SEM
    • Portamuestras SEM tipo stub y pin stub
      • Pin stubs estándar
        • Pin stubs angulados
        • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
        • Pin stubs extra altos (extra height)
        • Pin stubs grabados
        • Pin stubs planos
        • Pin stubs tipo plato
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Pin stubs para TESCAN
        • Pin stubs angulados
        • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
        • Pin stubs extra altos (extra height)
        • Pin stubs grabados
        • Pin stubs planos
        • Pin stubs tipo plato
        • Stubs tipo Cambridge S4
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Pin stubs para TFS / FEI
        • Pin stubs angulados
        • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
        • Pin stubs extra altos (extra height)
        • Pin stubs grabados
        • Pin stubs planos
        • Pin stubs tipo plato
        • Stubs tipo Cambridge S4
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Pin stubs para ZEISS
        • Pin stubs angulados con pin corto
        • Pin stubs de perfil bajo (low profile) con pin corto
        • Pin stubs extra altos (extra height) con pin corto
        • Pin stubs grabados con pin corto
        • Pin stubs planos con pin corto
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Stubs para JEOL
        • Stubs angulados
        • Stubs planos cilíndricos
        • Stubs tipo plato
        • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
      • Stubs para HITACHI
        • Stubs angulados con rosca M4
        • Stubs planos cilíndricos con rosca M4
        • Stubs tipo plato con rosca M4
        • Stubs con pin roscado tipo M6
        • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
      • Stubs tipo Cambridge S4
      • Stubs y pin stubs de carbono alta pureza
      • Pin stubs perfil bajo para FIB/SEM (low profile)
        • Pin stubs de perfil bajo para TESCAN
        • Pin stubs de perfil bajo para TFS / FEI
        • Pin stubs de perfil bajo para ZEISS
      • Pinzas especiales para stubs y pin stubs
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
    • Adaptadores de stubs para uso multiplataforma
      • Adaptadores de stubs para uso en SEMs con pin estándar (TESCAN-PHILIPS-TFS-FEI-etc)
      • Adaptadores de stubs para uso en SEMs con pin corto (ZEISS o LEO)
      • Adaptadores de stubs para uso en SEMs de JEOL
      • Adaptadores de stubs para uso en SEMs de HITACHI
      • Adaptadores de stubs para uso en Microscopios Ópticos
    • Portamuestras SEM tipo holder
      • Portamuestras SEM inclinados
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de ZEISS
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras SEM para muestras pequeñas
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras SEM con S-Clip
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Portamuestras SEM con S-Clip de perfil bajo (low profile)
          • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
          • Portamuestras SEM con S-Clip planos
        • Para SEMs de ZEISS y LEO
          • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
          • Portamuestras SEM con S-Clip planos
        • Para SEMs de JEOL
          • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
          • Portamuestras SEM con S-Clip planos
        • Para SEMs de HITACHI
          • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
          • Portamuestras SEM con S-Clip planos
      • Portamuestras SEM de perfil bajo (Low Profile) con S-Clip
      • Portamuestras SEM con agarre de tornillo
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras SEM con tornillo de banco
        • Portamuestras con tornillo de banco centrado
          • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras con tornillo de banco pequeños
          • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras con tornillo de banco universales
          • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras SEM con sujeción por los cuatro lados
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras SEM para probetas metalográficas
        • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras para imágenes STEM
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de HITACHI
      • Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
        • Para FIB/SEM de TESCAN-TFS-FEI Dualbeam-ZEISS CrossBeam
        • Para FIB/SEM de ZEISS
        • Para FIB/SEM de HITACHI
      • Portamuestras SEM para Rejillas TEM (grids)
        • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
        • Para SEMs de JEOL
        • Para SEMs HITACHI
    • Holders para microscopía correlativa y demostración
    • Pinzas especiales para stubs y pin stubs
      • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
      • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
    • Preparación de muestras líquidas SEM/EDS
      • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
      • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM
      • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM
    • Cintas y etiquetas conductoras de carbono
      • Alta pureza
      • Alta pureza y super lisas
    • Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para SEM
      • Filamentos de tungsteno
      • Cátodos de hexaboruro de lantano LaB6
      • Cañones Schottky de emisión de campo
    • Otros accesorios y consumibles para JEOL Neoscope
    • Otros accesorios y consumibles para SEMs Phenom
    • Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM
  • Consumibles TEM
    • Rejillas TEM (grids)
      • Rejillas TEM (grids) Económicas
        • Con malla cuadriculada
      • Rejillas TEM (grids) de Precisión
        • Con 1 agujero
        • Con 1 ranura
        • Con barras paralelas
        • Con barras paralelas y división central
        • Con malla cuadriculada
        • Con malla cuadriculada y barras finas
        • Con malla hexagonal
        • Con malla hexagonal y barras finas
      • Rejillas TEM (grids) de Alta Calidad
        • Con 1 agujero
        • Con 1 ranura
        • Con localización posicional
        • Con malla cuadriculada
        • Con malla doble plegable
        • Con malla hexagonal
        • Con malla rectangular
      • Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
    • Rejillas TEM (grids) con película de soporte
      • Rejillas TEM (grids) con película de solo Carbono
        • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono perforado (Holey)
        • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono perforado resistente (Lacey)
        • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono sin perforar
        • Rejillas TEM (grids) con película ultrafina de Carbono sin perforar
      • Rejillas TEM (grids) de localización posicional con película de Carbono perforada y sin perforar
      • Rejillas TEM (grids) con película de Grafeno
      • Rejillas TEM (grids) con películas de Grafeno y Carbono perforado resistente
      • Rejillas TEM (grids) con película de Pioloform
      • Rejillas TEM (grids) con película doble de Pioloform y Carbono
      • Rejillas TEM (grids) con película de Formvar
      • Rejillas TEM (grids) con película doble de Formvar y Carbono
    • Cajas almacenamiento de Rejillas TEM (grids)
      • Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
      • Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
      • Cajas para rejillas (grids) de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
    • Preparación muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
      • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
      • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
      • Accesorios para celdas K-kit
    • Soporte de nitruro de silicio
      • Film de 10 nm
      • Film de 20 nm
      • Film de 30 nm
      • Film de 50 nm
      • Film de 100 nm
      • Film de 200 nm
    • Tinción de muestras TEM
    • Tubos para embutido de muestras TEM
    • Manipuladores de precisión para ultramicrotomía
    • Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para TEM
      • Filamentos de tungsteno
      • Cátodos de hexaboruro de lantano
      • Cañones Schottky de emisión de campo
    • Pistola antiestática
  • Consumibles FIB
    • Microscopía correlativa y demostración
    • Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
    • Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
    • Portamuestras FIB tipo pin stub de perfil bajo (low profile)
      • Pin Stubs de perfil bajo para TESCAN
      • Pin Stubs de perfil bajo para TFS / FEI
      • Pin Stubs de perfil bajo para ZEISS
    • Portamuestras FIB inclinados para pin stubs
      • Para TESCAN
      • Para TFS/FEI
      • Para ZEISS
    • Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
      • Para FIB/SEM de TESCAN-TFS-FEI Dualbeam-ZEISS CrossBeam
      • Para FIB/SEM de ZEISS
      • Para FIB/SEM de HITACHI
    • Pinzas especiales para pin stubs
      • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
  • Consumibles AFM/SPM
    • Microscopía correlativa y demostración
    • Portamuestras AFM/SPM para medidas a 90°
    • Discos metálicos para muestras AFM/SPM
    • Cajas para almacenamiento de discos AFM/SPM
    • Obleas (wafers) y chips de silicio recubiertas de oro
      • Recubiertas con 10 nm de oro (Au)
      • Recubiertas con 50 nm de oro (Au)
      • Recubiertas con 100 nm de oro (Au)
      • Recubiertas con 500 nm de oro (Au)
    • Discos y láminas de mica
    • Substratos de HOPG
    • Pinzas para discos y cantilevers AFM/SPM
  • Celdas para Muestras Líquidas
    • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
    • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM/TEM
    • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
    • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM/TEM
  • Microscopía Óptica y Digital
    • Microscopía correlativa y demostración
    • Microscopios digitales para inspección
    • Patrones de calibración microscopía óptica
      • Patrones con una retícula reglada
      • Patrones con múltiples retículas regladas
      • Micrómetros de campo con retícula reglada para luz transmitida
      • Micrómetros de campo con retícula reglada para luz reflejada
      • Micrómetros de campo con retícula para conteo
      • Análisis de partículas y Localizadores England/Halton
    • Cajas de almacenamiento de portaobjetos
  • Patrones de Calibración
    • Calibración de resolución SEM
      • Patrones resolución SEM con oro sobre carbono
      • Patrones resolución SEM con estaño sobre carbono
    • Calibración SEM / FIB
    • Calibración EDS / WDS
    • Calibración TEM
    • Calibración AFM / SPM
    • Calibración LM (Microscopía Óptica)
      • Patrones con 1 retícula reglada
      • Patrones con 4 retículas regladas
      • Micrómetros de campo reglados para luz transmitida
      • Micrómetros de campo reglados para luz reflejada
      • Micrómetros de campo para conteo
      • Localizadores England/Halton y Análisis de partículas
  • Accesorios de Vacío
    • Contenedores de vidrio de alto vacío
    • Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
      • Con cámara de vacío de Ø 80 mm
      • Con cámara de vacío de Ø superior a 80 mm
      • Mangueras y abrazaderas para estos contenedores
    • Cámaras de vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
    • Bombas de vacío para laboratorio y producción
    • Insonorización bombas de vacío
    • Medidores de vacío (Vacuómetros)
      • Vacuómetros de verificación rápida
      • Vacuómetros de precisión portátiles
    • Sellador de vacío
    • Aceites y grasas
      • Grasas de silicona para alto vacío
      • Grasas conductoras de plata y carbono
      • Grasas Krytox PFPE / PTFE
      • Aceites para bombas de vacío rotativas
    • Desecadores de gel de sílice
  • Sistemas de Recubrimiento
    • Metalizadoras y evaporadoras
      • Metalizadoras
        • Luxor
        • Vac Coat
        • Cressington
      • Evaporadoras de carbono
      • Evaporadoras térmicas
      • Sistemas de deposición duales
    • Discos metalizadores (Sputter targets)
      • Ø 19 mm diámetro para Gatan
      • Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
      • Ø 30 mm diámetro para Luxor
      • Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
      • Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
      • Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
      • Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
      • Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
      • Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
      • Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
      • Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
      • Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
    • Varillas y fibras de carbono
      • Fibras de carbono
      • Varillas de carbono
    • Hilos metalizadores para evaporación al vacío
  • Otro equipamiento
    • Cabinas de insonorización
      • Insonorización de bombas de vacío
      • Insonorización de baños de ultrasonidos
  • Inicio
  • Correscopy, la solución para microscopía correlativa multiplataforma (SEM, AFM, LM, Espectroscopía, etc)
  • Sin categoría

Sin categoría

Cressington 45
Leica 90
Hitachi 185x115
ThermoFisher 150x90
logo_JEOL_sfi ByN OK
Zeiss 115
Logo TESCAN ByN OK
sakura
Logo VacCoat ByN OK
hysol
Logo Luxor contraste alto OK
Logo Quorum ByN OK
Kimball_Physics
Edwards
krytox
wenol
integra
flowview
logo-zen-box ByN
K-kit

Para consultas sobre nuestros productos o el uso de esta web, o si quiere nuestro asesoramiento técnico para una necesidad de su laboratorio, rellene este formulario y contactaremos con Ud. a la mayor brevedad

Si lo prefiere, también puede contactarnos telefónicamente: Oficina: +34 91 148 8267 Móvil: +34 636 045 208

¿Hablamos?

    SUSCRIBIRSE AL BOLETÍN INFORMATIVO
    Obtenga toda la información más reciente de nuevos productos, ofertas especiales y eventos

    He leído y acepto el Aviso Legal y la Política de Privacidad

    DATOS DE CONTACTO
    Business Park Europa Empresarial
    C/Rozabella, 6
    Edificio Paris, Oficina 12
    28290 Las Rozas (Madrid)

    CORREO ELECTRÓNICO
    info@semconsumibles.es

    TELÉFONO
    +34 643 865 853

    HORARIO
    L – V de 8 a 14h y de 16 a 18h

    MI CUENTA
    Acceder a mi cuenta
    Lista de deseos

    SOBRE NOSOTROS
    ¿Quiénes somos?
    Contáctenos
    Aviso Legal
    Condiciones de Venta
    Política de Privacidad
    Política de Cookies
    Aprende-SEM

    • SEM de sobremesa
      • NANOS
    • Preparación de Muestras
      • Para microscopía correlativa y demostración
      • Almacenamiento de muestras
        • Bolsas de aluminio con cierre ziplock y termo sellado
        • Cajas desecadoras de gel de sílice
        • Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
        • Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
        • Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
        • Cajas almacenamiento de stubs con pin (Pin Stubs)
        • Cajas de almacenamiento de stubs Hitachi M4
        • Cajas de almacenamiento de stubs JEOL
        • Cajas magnéticas para discos AFM/SPM
        • Cajas almacenamiento portaobjetos de vidrio microscopía óptica
        • Cajitas para transporte de obleas
        • Cajas de plástico transparentes y otras
        • Cajitas de plástico con membrana
        • Cajitas de cartón
        • Almacenamiento de muestras al vacío
          • Contenedores de vidrio de alto vacío
          • Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
            • Con cámara de vacío de Ø 80 mm
            • Con cámara de vacío de Ø superior a 80 mm
            • Mangueras y abrazaderas para estos contenedores
          • Contenedores al vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
          • Sellador de vacío
      • Substratos y soportes
        • Obleas (wafers) y chips de silicio
        • Obleas (wafers) y chips de silicio recubiertos de oro
          • Con recubrimiento de 10 nm de oro (Au)
          • Con recubrimiento de 50 nm de oro (Au)
          • Con recubrimiento de 100 nm de oro (Au)
          • Con recubrimiento de 500 nm de oro (Au)
        • Portaobjetos recubiertos de oro
        • Discos metálicos alta pureza
          • Con Ø 12 mm de diámetro
          • Con Ø 25 mm de diámetro
        • Discos de grafito y de carbono vítreo
        • Discos y láminas de cuarzo
        • Discos y láminas de mica
        • Substratos de HOPG
      • Discos para metalizar muestras (Sputter targets)
        • Ø 19 mm diámetro para Gatan
        • Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
        • Ø 30 mm diámetro para Luxor
        • Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
        • Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
        • Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
        • Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
        • Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
        • Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
        • Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
        • Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
        • Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
      • Varillas y fibras de carbono
        • Fibras de carbono
        • Varillas de carbono
      • Hilos para metalizar muestras
      • Preparación de muestras líquidas
        • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
        • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM/TEM
        • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
        • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM/TEM
      • Adhesivos no conductores
        • Cinta de Kapton
        • Cinta de poliéster mylar PET verde
        • Pegatina doble cara
      • Cintas-etiquetas-epoxis-pegamentos-y-pinturas conductoras
        • Níquel conductor
        • Plata conductora
        • Aluminio conductor
        • Cobre conductor
        • Carbono conductor
        • Pegatinas conductoras doble cara Lift-N-Press
      • Herramientas especiales
        • Herramientas de mano
        • Herramientas para microscopía criogénica
      • Pistola antiestática
      • Manipuladores finos
      • Pinzas
        • Pinzas para discos y cantilevers AFM/SPM
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
        • Pinzas para uso criogénico
      • Limpieza y pulido
    • Consumibles SEM
      • Portamuestras SEM tipo stub y pin stub
        • Pin stubs estándar
          • Pin stubs angulados
          • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
          • Pin stubs extra altos (extra height)
          • Pin stubs grabados
          • Pin stubs planos
          • Pin stubs tipo plato
          • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pin stubs para TESCAN
          • Pin stubs angulados
          • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
          • Pin stubs extra altos (extra height)
          • Pin stubs grabados
          • Pin stubs planos
          • Pin stubs tipo plato
          • Stubs tipo Cambridge S4
          • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pin stubs para TFS / FEI
          • Pin stubs angulados
          • Pin stubs de perfil bajo (low profile)
          • Pin stubs extra altos (extra height)
          • Pin stubs grabados
          • Pin stubs planos
          • Pin stubs tipo plato
          • Stubs tipo Cambridge S4
          • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pin stubs para ZEISS
          • Pin stubs angulados con pin corto
          • Pin stubs de perfil bajo (low profile) con pin corto
          • Pin stubs extra altos (extra height) con pin corto
          • Pin stubs grabados con pin corto
          • Pin stubs planos con pin corto
          • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Stubs para JEOL
          • Stubs angulados
          • Stubs planos cilíndricos
          • Stubs tipo plato
          • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
        • Stubs para HITACHI
          • Stubs angulados con rosca M4
          • Stubs planos cilíndricos con rosca M4
          • Stubs tipo plato con rosca M4
          • Stubs con pin roscado tipo M6
          • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
        • Stubs tipo Cambridge S4
        • Stubs y pin stubs de carbono alta pureza
        • Pin stubs perfil bajo para FIB/SEM (low profile)
          • Pin stubs de perfil bajo para TESCAN
          • Pin stubs de perfil bajo para TFS / FEI
          • Pin stubs de perfil bajo para ZEISS
        • Pinzas especiales para stubs y pin stubs
          • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
          • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
      • Adaptadores de stubs para uso multiplataforma
        • Adaptadores de stubs para uso en SEMs con pin estándar (TESCAN-PHILIPS-TFS-FEI-etc)
        • Adaptadores de stubs para uso en SEMs con pin corto (ZEISS o LEO)
        • Adaptadores de stubs para uso en SEMs de JEOL
        • Adaptadores de stubs para uso en SEMs de HITACHI
        • Adaptadores de stubs para uso en Microscopios Ópticos
      • Portamuestras SEM tipo holder
        • Portamuestras SEM inclinados
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de ZEISS
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras SEM para muestras pequeñas
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras SEM con S-Clip
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
            • Portamuestras SEM con S-Clip de perfil bajo (low profile)
            • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
            • Portamuestras SEM con S-Clip planos
          • Para SEMs de ZEISS y LEO
            • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
            • Portamuestras SEM con S-Clip planos
          • Para SEMs de JEOL
            • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
            • Portamuestras SEM con S-Clip planos
          • Para SEMs de HITACHI
            • Portamuestras SEM con S-Clip inclinados
            • Portamuestras SEM con S-Clip planos
        • Portamuestras SEM de perfil bajo (Low Profile) con S-Clip
        • Portamuestras SEM con agarre de tornillo
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras SEM con tornillo de banco
          • Portamuestras con tornillo de banco centrado
            • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
            • Para SEMs de JEOL
            • Para SEMs de HITACHI
          • Portamuestras con tornillo de banco pequeños
            • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
            • Para SEMs de JEOL
            • Para SEMs de HITACHI
          • Portamuestras con tornillo de banco universales
            • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
            • Para SEMs de JEOL
            • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras SEM con sujeción por los cuatro lados
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras SEM para probetas metalográficas
          • Para SEMs de TESCAN-ZEISS-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras para imágenes STEM
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de HITACHI
        • Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
          • Para FIB/SEM de TESCAN-TFS-FEI Dualbeam-ZEISS CrossBeam
          • Para FIB/SEM de ZEISS
          • Para FIB/SEM de HITACHI
        • Portamuestras SEM para Rejillas TEM (grids)
          • Para SEMs de TESCAN-TFS-FEI-PHENOM-PHILIPS-etc
          • Para SEMs de JEOL
          • Para SEMs HITACHI
      • Holders para microscopía correlativa y demostración
      • Pinzas especiales para stubs y pin stubs
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
        • Pinzas para stubs sin canal (ranura) perimetral
      • Preparación de muestras líquidas SEM/EDS
        • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
        • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM
        • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM
      • Cintas y etiquetas conductoras de carbono
        • Alta pureza
        • Alta pureza y super lisas
      • Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para SEM
        • Filamentos de tungsteno
        • Cátodos de hexaboruro de lantano LaB6
        • Cañones Schottky de emisión de campo
      • Otros accesorios y consumibles para JEOL Neoscope
      • Otros accesorios y consumibles para SEMs Phenom
      • Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM
    • Consumibles TEM
      • Rejillas TEM (grids)
        • Rejillas TEM (grids) Económicas
          • Con malla cuadriculada
        • Rejillas TEM (grids) de Precisión
          • Con 1 agujero
          • Con 1 ranura
          • Con barras paralelas
          • Con barras paralelas y división central
          • Con malla cuadriculada
          • Con malla cuadriculada y barras finas
          • Con malla hexagonal
          • Con malla hexagonal y barras finas
        • Rejillas TEM (grids) de Alta Calidad
          • Con 1 agujero
          • Con 1 ranura
          • Con localización posicional
          • Con malla cuadriculada
          • Con malla doble plegable
          • Con malla hexagonal
          • Con malla rectangular
        • Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
      • Rejillas TEM (grids) con película de soporte
        • Rejillas TEM (grids) con película de solo Carbono
          • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono perforado (Holey)
          • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono perforado resistente (Lacey)
          • Rejillas TEM (grids) con película de Carbono sin perforar
          • Rejillas TEM (grids) con película ultrafina de Carbono sin perforar
        • Rejillas TEM (grids) de localización posicional con película de Carbono perforada y sin perforar
        • Rejillas TEM (grids) con película de Grafeno
        • Rejillas TEM (grids) con películas de Grafeno y Carbono perforado resistente
        • Rejillas TEM (grids) con película de Pioloform
        • Rejillas TEM (grids) con película doble de Pioloform y Carbono
        • Rejillas TEM (grids) con película de Formvar
        • Rejillas TEM (grids) con película doble de Formvar y Carbono
      • Cajas almacenamiento de Rejillas TEM (grids)
        • Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
        • Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
        • Cajas para rejillas (grids) de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
      • Preparación muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
        • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
        • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
        • Accesorios para celdas K-kit
      • Soporte de nitruro de silicio
        • Film de 10 nm
        • Film de 20 nm
        • Film de 30 nm
        • Film de 50 nm
        • Film de 100 nm
        • Film de 200 nm
      • Tinción de muestras TEM
      • Tubos para embutido de muestras TEM
      • Manipuladores de precisión para ultramicrotomía
      • Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para TEM
        • Filamentos de tungsteno
        • Cátodos de hexaboruro de lantano
        • Cañones Schottky de emisión de campo
      • Pistola antiestática
    • Consumibles FIB
      • Microscopía correlativa y demostración
      • Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
      • Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
      • Portamuestras FIB tipo pin stub de perfil bajo (low profile)
        • Pin Stubs de perfil bajo para TESCAN
        • Pin Stubs de perfil bajo para TFS / FEI
        • Pin Stubs de perfil bajo para ZEISS
      • Portamuestras FIB inclinados para pin stubs
        • Para TESCAN
        • Para TFS/FEI
        • Para ZEISS
      • Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
        • Para FIB/SEM de TESCAN-TFS-FEI Dualbeam-ZEISS CrossBeam
        • Para FIB/SEM de ZEISS
        • Para FIB/SEM de HITACHI
      • Pinzas especiales para pin stubs
        • Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral
    • Consumibles AFM/SPM
      • Microscopía correlativa y demostración
      • Portamuestras AFM/SPM para medidas a 90°
      • Discos metálicos para muestras AFM/SPM
      • Cajas para almacenamiento de discos AFM/SPM
      • Obleas (wafers) y chips de silicio recubiertas de oro
        • Recubiertas con 10 nm de oro (Au)
        • Recubiertas con 50 nm de oro (Au)
        • Recubiertas con 100 nm de oro (Au)
        • Recubiertas con 500 nm de oro (Au)
      • Discos y láminas de mica
      • Substratos de HOPG
      • Pinzas para discos y cantilevers AFM/SPM
    • Celdas para Muestras Líquidas
      • Celdas y accesorios FlowView para muestras líquidas SEM/EDS
      • Celdas K-kit para muestras líquidas SEM/FESEM/TEM
      • Celdas K-kit para muestras líquidas TEM
      • Accesorios para celdas K-kit SEM/FESEM/TEM
    • Microscopía Óptica y Digital
      • Microscopía correlativa y demostración
      • Microscopios digitales para inspección
      • Patrones de calibración microscopía óptica
        • Patrones con una retícula reglada
        • Patrones con múltiples retículas regladas
        • Micrómetros de campo con retícula reglada para luz transmitida
        • Micrómetros de campo con retícula reglada para luz reflejada
        • Micrómetros de campo con retícula para conteo
        • Análisis de partículas y Localizadores England/Halton
      • Cajas de almacenamiento de portaobjetos
    • Patrones de Calibración
      • Calibración de resolución SEM
        • Patrones resolución SEM con oro sobre carbono
        • Patrones resolución SEM con estaño sobre carbono
      • Calibración SEM / FIB
      • Calibración EDS / WDS
      • Calibración TEM
      • Calibración AFM / SPM
      • Calibración LM (Microscopía Óptica)
        • Patrones con 1 retícula reglada
        • Patrones con 4 retículas regladas
        • Micrómetros de campo reglados para luz transmitida
        • Micrómetros de campo reglados para luz reflejada
        • Micrómetros de campo para conteo
        • Localizadores England/Halton y Análisis de partículas
    • Accesorios de Vacío
      • Contenedores de vidrio de alto vacío
      • Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
        • Con cámara de vacío de Ø 80 mm
        • Con cámara de vacío de Ø superior a 80 mm
        • Mangueras y abrazaderas para estos contenedores
      • Cámaras de vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
      • Bombas de vacío para laboratorio y producción
      • Insonorización bombas de vacío
      • Medidores de vacío (Vacuómetros)
        • Vacuómetros de verificación rápida
        • Vacuómetros de precisión portátiles
      • Sellador de vacío
      • Aceites y grasas
        • Grasas de silicona para alto vacío
        • Grasas conductoras de plata y carbono
        • Grasas Krytox PFPE / PTFE
        • Aceites para bombas de vacío rotativas
      • Desecadores de gel de sílice
    • Sistemas de Recubrimiento
      • Metalizadoras y evaporadoras
        • Metalizadoras
          • Luxor
          • Vac Coat
          • Cressington
        • Evaporadoras de carbono
        • Evaporadoras térmicas
        • Sistemas de deposición duales
      • Discos metalizadores (Sputter targets)
        • Ø 19 mm diámetro para Gatan
        • Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
        • Ø 30 mm diámetro para Luxor
        • Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
        • Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
        • Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
        • Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
        • Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
        • Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
        • Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
        • Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
        • Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
      • Varillas y fibras de carbono
        • Fibras de carbono
        • Varillas de carbono
      • Hilos metalizadores para evaporación al vacío
    • Otro equipamiento
      • Cabinas de insonorización
        • Insonorización de bombas de vacío
        • Insonorización de baños de ultrasonidos

    Utilizamos cookies para ofrecerte la mejor experiencia en nuestra web.

    Puedes aprender más sobre qué cookies utilizamos o desactivarlas en los .

    SEMCONSUMIBLES
    Powered by  GDPR Cookie Compliance
    Resumen de privacidad

    Esta web utiliza cookies para que podamos ofrecerte la mejor experiencia de usuario posible. La información de las cookies se almacena en tu navegador y realiza funciones tales como reconocerte cuando vuelves a nuestra web o ayudar a nuestro equipo a comprender qué secciones de la web encuentras más interesantes y útiles.

    Cookies estrictamente necesarias

    Las cookies estrictamente necesarias tiene que activarse siempre para que podamos guardar tus preferencias de ajustes de cookies.

    Si desactivas esta cookie no podremos guardar tus preferencias. Esto significa que cada vez que visites esta web tendrás que activar o desactivar las cookies de nuevo.

    Cookies de terceros

    Esta web utiliza Google Analytics para recopilar información anónima tal como el número de visitantes del sitio, o las páginas más populares.

    Dejar esta cookie activa nos permite mejorar nuestra web.

    ¡Por favor, activa primero las cookies estrictamente necesarias para que podamos guardar tus preferencias!

    Política de cookies

    Más información sobre nuestra política de cookies